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MOSFET最基礎的東西,看完就懂

發布時間:2022-03-18作者來源:薩科微瀏覽:2802


什么是MOSFET  
   
        MOSFET的原意是:MOS(Metal Oxide Semiconductor金屬氧化物半導體),FET(Field Effect Transistor場效應晶體管),即以金屬層(M)的柵極隔著氧化層(O)利用電場的效應來控制半導體(S)的場效應晶體管。  
         功率MOSFET的結構  
   
       

功率MOSFET的內部結構和電氣符號如圖所示,它可分為 NPN型和PNP型。NPN型通常稱為N溝道型,PNP型通常稱P溝道型。由圖1可看出,對于N溝道型的場效應管其源極和漏極接在N型半導體上,同樣對于P 溝道的場效應管其源極和漏極則接在P型半導體上。我們知道一般三極管是由輸入的電流控制輸出的電流。但對于場效應管,其輸出電流是由輸入的電壓(或稱場電壓)控制,可以認為輸入電流極小或沒有輸入電流,這使得該器件有很高的輸入阻抗,同時這也是我們稱之為場效應管的原因。



         功率MOSFET的工作原理  
   
        截止:漏源極間加正電源,柵源極間電壓為零。P基區與N漂移區之間形成的PN結J1反偏,漏源極之間無電流流過。  
  導電:在柵源極間加正電壓UGS,柵極是絕緣的,所以不會有柵極電流流過。但柵極的正電壓會將其下面P區中的空穴推開,而將P區中的少子—電子吸引到柵極下面的P區表面  
  當UGS大于UT(開啟電壓或閾值電壓)時,柵極下P區表面的電子濃度將超過空穴濃度,使P型半導體反型成N型而成為反型層,該反型層形成N溝道而使PN結J1消失,漏極和源極導電。  
         功率MOSFET的基本特性  
   
            靜態特性:          

其轉移特性和輸出特性如圖2所示。


 
 


漏極電流ID和柵源間電壓UGS的關系稱為MOSFET的轉移特性,ID較大時,ID與UGS的關系近似線性,曲線的斜率定義為跨導Gfs。


  MOSFET的漏極伏安特性(輸出特性):截止區(對應于GTR的截止區);飽和區(對應于GTR的放大區);非飽和區(對應于GTR的飽和區)。電力 MOSFET工作在開關狀態,即在截止區和非飽和區之間來回轉換。電力MOSFET漏源極之間有寄生二極管,漏源極間加反向電壓時器件導通。電力 MOSFET的通態電阻具有正溫度系數,對器件并聯時的均流有利。  
            動態特性:          

其測試電路和開關過程波形如圖3所示。



 

td(on)導通延時時間——導通延時時間是從當柵源電壓上升到10%柵驅動電壓時到漏電流升到規定電流的10%時所經歷的時間。


tr上升時間——上升時間是漏極電流從10%上升到90%所經歷的時間。  ??   iD穩態值由漏極電源電壓UE和漏極負載電阻決定。UGSP的大小和iD的穩態值有關,UGS達到UGSP后,在up作用下繼續升高直至達到穩態,但iD已不變。  ??

開通時間ton——開通延遲時間與上升時間之和。


td(off)關斷延時時間——關斷延時時間是從當柵源電壓下降到90%柵驅動電壓時到漏電流降至規定電流的90%時所經歷的時間。這顯示電流傳輸到負載之前所經歷的延遲。  
  tf下降時間——下降時間是漏極電流從90%下降到10%所經歷的時間。  
  關斷時間toff——關斷延遲時間和下降時間之和。        
            理解MOSFET的幾個常用參數                VDS,即漏源電壓,這是MOSFET的一個極限參數,表示MOSFET漏極與源極之間能夠承受的[敏感詞]電壓值。需要注意的是,這個參數是跟結溫相關的,通常結溫越高,該值[敏感詞]。      RDS(on),漏源導通電阻,它表示MOSFET在某一條件下導通時,漏源極之間的導通電阻。這個參數與MOSFET結溫,驅動電壓Vgs相關。在一定范圍內,結溫越高,Rds越大;驅動電壓越高,Rds越小。      Qg,柵極電荷,是在驅動信號作用下,柵極電壓從0V上升至終止電壓(如15V)所需的充電電荷。也就是MOSFET從截止狀態到完全導通狀態,驅動電路所需提供的電荷,是一個用于評估MOSFET的驅動電路驅動能力的主要參數。      Id,漏極電流,漏極電流通常有幾種不同的描述方式。根據工作電流的形式有,連續漏級電流及一定脈寬的脈沖漏極電流(Pulsed drain current)。這個參數同樣是MOSFET的一個極限參數,但此[敏感詞]電流值并不代表在運行過程中漏極電流能夠達到這個值。它表示當殼溫在某一值時,如果MOSFET工作電流為上述[敏感詞]漏極電流,則結溫會達到[敏感詞]值。所以這個參數還跟器件封裝,環境溫度有關。      Eoss,輸出容能量,表示輸出電容Coss在MOSFET存儲的能量大小。由于MOSFET的輸出電容Coss有非常明顯的非線性特性,隨Vds電壓的變化而變化。所以如果datasheet提供了這個參數,對于評估MOSFET的開關損耗很有幫助。并非所有的MOSFET手冊中都會提供這個參數,事實上大部分datasheet并不提供。      Body Diode di/dt 體二極管的電流變化率,它反應了MOSFET體二極管的反向恢復特性。因為二極管是雙極型器件,它受到電荷存儲的影響,當二極管反向偏置時,PN結儲存的電荷必須清除,上述參數正是反應這一特性的。      Vgs,柵源極[敏感詞]驅動電壓,這也是MOSFET的一個極限參數,表示MOSFET所能承受的[敏感詞]驅動電壓,一旦驅動電壓超過這個極限值,即使在極短的時間內也會對柵極氧化層產生[敏感詞]性傷害。一般來說,只要驅動電壓不超過極限,就不會有問題。但是,某些特殊場合,因為寄生參數的存在,會對Vgs電壓產生不可預料的影響,需要格外注意。      SOA,安全工作區,每種MOSFET都會給出其安全工作區域,不同雙極型晶體管,功率MOSFET不會表現出二次擊穿,因此安全運行區域只簡單從導致結溫達到[敏感詞]允許值時的耗散功率定義。            
            功率MOSFET的選型原則                了解了MOSFET的參數意義,如何根據廠商的產品手冊表選擇滿足自己需要的產品呢?可以通過以下四步來選擇正確的MOSFET。  
  1) 溝道的選擇??   為設計選擇正確器件的[敏感詞]步是決定采用N溝道還是P溝道 MOSFET.在典型的功率應用中,當一個MOSFET接地,而負載連接到干線電壓上時,該MOSFET就構成了低壓側開關。在低壓側開關中,應采用N溝 道MOSFET,這是出于對關閉或導通器件所需電壓的考慮。當MOSFET連接到總線及負載接地時,就要用高壓側開關。通常會在這個拓撲中采用P溝道 MOSFET,這也是出于對電壓驅動的考慮。?  ?   2) 電壓和電流的選擇 ??   額定電壓越大,器件的成本就越高。根據實踐經驗,額定電壓應當大于干線電壓或 總線電壓。這樣才能提供足夠的保護,使MOSFET不會失效。就選擇MOSFET而言,必須確定漏極至源極間可能承受的[敏感詞]電壓,即[敏感詞]VDS.設計工程 師需要考慮的其他安全因素包括由開關電子設備(如電機或變壓器)誘發的電壓瞬變。不同應用的額定電壓也有所不同;通常,便攜式設備為20V、FPGA電源 為20~30V、85~220VAC應用為450~600V.??在連續導通模式下,MOSFET處于穩態,此時電流連續通過器件。脈沖尖峰是指有大量電 涌(或尖峰電流)流過器件。一旦確定了這些條件下的[敏感詞]電流,只需直接選擇能承受這個[敏感詞]電流的器件便可。?  
  3) 計算導通損耗??   MOSFET器件的 功率耗損可由Iload2×RDS(ON)計算,由于導通電阻隨溫度變化,因此功率耗損也會隨之按比例變化。對便攜式設計來說,采用較低的電壓比較容易 (較為普遍),而對于工業設計,可采用較高的電壓。注意RDS(ON)電阻會隨著電流輕微上升。關于RDS(ON)電阻的各種電氣參數變化可在制造商提供 的技術資料表中查到。?  ?   4) 計算系統的散熱要求 ??   設計人員必須考慮兩種不同的情況,即最壞情況和真實情況。建議采用針對最壞情況的計算結果,因為這 個結果提供更大的安全余量,能確保系統不會失效。在MOSFET的資料表上還有一些需要注意的測量數據;比如封裝器件的半導體結與環境之間的熱阻,以及最 大的結溫。  ??   開關損耗其實也是一個很重要的指標。導通瞬間的電壓電流乘積相當大,一定程度上決定了器件的開關性能。不過,如果系統對開關性能要求比較高,可以選擇柵極電荷QG比較小的功率MOSFET。


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