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發(fā)布時(shí)間:2024-07-15作者來(lái)源:薩科微瀏覽:1181
所以接下來(lái)再發(fā)布一個(gè)缺陷(顆粒)檢測(cè)設(shè)備的供應(yīng)商數(shù)據(jù)。這個(gè)領(lǐng)域,尤其是有圖形晶圓的缺陷檢測(cè)可能是所有檢測(cè)設(shè)備里技術(shù)門檻[敏感詞]的領(lǐng)域了(號(hào)稱小光刻機(jī)的就是這種設(shè)備)
這個(gè)領(lǐng)域中的高端設(shè)備幾乎被KLA一家壟斷。雖然從下表中看起來(lái)國(guó)產(chǎn)設(shè)備廠商很多,但據(jù)我溝通了解,目前國(guó)產(chǎn)設(shè)備在KLA的一些高端型號(hào)設(shè)備面前差距還非常大。短期內(nèi)要想突破難度極高
目前我只是先把廠商和產(chǎn)品大類的信息統(tǒng)計(jì)出來(lái),供大家參考。后續(xù)我會(huì)進(jìn)一步和各家廠商(尤其是國(guó)內(nèi)廠商)交流,把更加具體的技術(shù)指標(biāo)、應(yīng)用范圍和對(duì)標(biāo)海外產(chǎn)品型號(hào)的信息也統(tǒng)計(jì)出來(lái)
麻煩大家多多支持。能根據(jù)下表給我提供修改意見和補(bǔ)充信息就感激不盡了
注:因?yàn)橐恍┨厥庠颍袀€(gè)別廠商暫時(shí)沒(méi)有列出,希望大家理解
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